SK2008金相顯微測量分析系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品編號: 112215455516
產(chǎn)品詳細(xì)信息
產(chǎn)品介紹: | 2008型金相顯微圖象測量分析系統(tǒng): 2008型金相顯微圖象測量分析系統(tǒng)包括數(shù)碼金相顯微鏡及圖像測量分析軟件.系統(tǒng)集成了傳統(tǒng)目視與現(xiàn)代影像功能,內(nèi)置高亮度可持續(xù)調(diào)節(jié)的同軸光.高達(dá)400X-4000X的電子放大倍率和40 X-400 X的光學(xué)放大倍率, ±300納米測量精度,使成像更加清晰可見.由賽克專業(yè)開發(fā)圖像測量分析軟件,能夠快速的捕捉各種圖像,具有圖像測量、管理及處理等功能.產(chǎn)品適用于IC芯片、PCB覆銅板、液晶屏導(dǎo)電離子的檢測和工礦、科研,教學(xué)等單位研究和觀察等.尤其對于細(xì)小顆粒、粉末試樣、大批金相和大面積硅片的檢測,可得到的圖像效果. 本產(chǎn)品是經(jīng)濟(jì)普及型亞納米級測量產(chǎn)品,比同類產(chǎn)品具有的性價比. |
產(chǎn)品特點(diǎn): | ◆ 內(nèi)置連續(xù)可調(diào)光源 ◆ 4000X電子放大率,高質(zhì)素成像 ◆ 配合機(jī)臺使用鹵素?zé)簦ㄒ暪鈾诤涂讖焦鈾诖笮】烧{(diào)) ◆ 內(nèi)置式高清晰saike image card ◆ 縱、橫可移動平臺 ◆ 采用松下原廠CCD攝像頭 ◆ 外設(shè)獨(dú)特的目鏡 ◆ 適應(yīng)明視場、暗視場 ◆ SKD-CL2軟件系統(tǒng)可進(jìn)行各種圖像測量和處理 ◆ 支持多種格式,可進(jìn)行圖像存儲、編輯、打印、發(fā)送、格式化等 |
技術(shù)參數(shù): |
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