XLE-IA型大平臺(tái)金相檢測(cè)顯微鏡

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產(chǎn)品型號(hào)：

品牌：

公司名稱：上海金鵬儀器有限公司

所在地：上海寶山

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

 
                                   
                                      產(chǎn)品編號(hào):  
                                     11238551416

產(chǎn)品詳細(xì)信息

產(chǎn)品介紹：

XLE-I型大平臺(tái)金相檢測(cè)顯微鏡是專為IT行業(yè)大面積集成電路，晶片的質(zhì)量檢測(cè)而設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)制造的。主體為：正置式，三目鏡筒，比傳統(tǒng)的顯微鏡更適合于觀察。上部安裝彩色攝像機(jī)連接彩色監(jiān)視器直接觀察。可連接計(jì)算機(jī)打印報(bào)告，照片或連接數(shù)碼相機(jī)，照相機(jī)直接拍照，還可以直接進(jìn)行圖像記錄，并建立技術(shù)檢測(cè)檔案，儲(chǔ)存，查詢，可省去復(fù)雜煩瑣的攝像，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。檢測(cè)顯微鏡具有獨(dú)特的特點(diǎn)：1）放大倍數(shù)：40倍至500倍；2）超大型載物臺(tái)，樣品可作為大范圍的縱橫方向快速移動(dòng)，擴(kuò)大檢測(cè)領(lǐng)域的使用范圍，適用于電子，冶金，機(jī)械，化工，科研，院校等部門，以及金相技術(shù)檢驗(yàn)，失效分析等。

技術(shù)參數(shù)：