XLE-III型大平臺檢測顯微鏡

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產品型號：

品牌：

公司名稱：上海金鵬儀器有限公司

所在地：上海寶山

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產品簡介

 
                                   
                                      產品編號:  
                                     11281013916

產品詳細信息

產品介紹：

XLE-III型大平臺金相檢測顯微鏡是專為IT行業(yè)大面積集成電路，晶片的質量檢測而設計開發(fā)制造的。主體為：正置式，三目鏡筒，比傳統(tǒng)的顯微鏡更適合于觀察。上部安裝彩色攝像機連接彩色監(jiān)視器直接觀察?？蛇B接計算機打印報告，照片或連接數碼相機，照相機直接拍照，還可以直接進行圖像記錄，并建立技術檢測檔案，儲存，查詢，可省去復雜煩瑣的攝像，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。檢測顯微鏡具有獨特的特點：1）放大倍數：40倍至500倍；2）超大型載物臺，樣品可作為大范圍的縱橫方向快速移動，擴大檢測領域的使用范圍，適用于電子，冶金，機械，化工，科研，院校等部門，以及金相技術檢驗，失效分析等。

產品特點：

基本配置
主機：1臺
行程：204mm×204mm
三目鏡：1 只
四孔轉換器：1只
目鏡：10×大視場目鏡2只
濾色片：藍，綠各一片
鹵素燈：2只
電源：12V/50W

技術參數：

機械筒長	160mm
放大倍數	400倍至500倍
載物臺面積	400mmX300mm
縱向移動范圍	254mm
橫向移動范圍	254mm
調焦機構	同軸粗微調機構,調焦范圍36mm. 格值0.002mm
光源	內藏式連續(xù)調光電源，鎢鹵素燈12V/50W
物鏡轉換器	四孔式 (三孔式)
目鏡筒	三目鏡 (雙目鏡)
儀器功能	明場,偏光,攝影等
儀器重量	17公斤
儀器體積	長560mm,寬530mm,高400mm