Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng) Model 58173

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產(chǎn)品價(jià)格： < 面議

產(chǎn)品型號(hào)：Model 58173

品牌：KENTHE

公司名稱：珠海市錦河貿(mào)易發(fā)展有限公司儀器儀表事業(yè)部

所在地：廣東珠海

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產(chǎn)品簡介

Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)
  1:全新且獨(dú)特之 LED 全光通量量測方式 
  2:高速自動(dòng)化 LED wafer/chip 點(diǎn)測設(shè)備 
  3:搭載 6 吋 Wafer/chip 載臺(tái) 
  4:提供全方位電性測試平臺(tái)

產(chǎn)品詳細(xì)信息

Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)

主　要　特　色
獨(dú)特大面積之光偵測器全新且獨(dú)特之 LED 全光通量量測方式高速自動(dòng)化 LED wafer/chip 點(diǎn)測設(shè)備搭載 6 吋 Wafer/chip 載臺(tái) 提供全方位電性測試平臺(tái)

硬體設(shè)備

自動(dòng)化 LED wafer/chip 點(diǎn)測設(shè)備
漏電流測試模組
電源量測單元
光學(xué)測試模組
ESD 測試模組 (選配)
58173 是一組全新獨(dú)特的量測 LED 全光通量之自動(dòng)化測試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測試生產(chǎn)線中，常見使用部份光通量來取代全光通量之量測方式 (見圖1)。然而，傳統(tǒng)的方式存在一些缺點(diǎn)，例如：準(zhǔn)確度較低、訊噪比較低、測試時(shí)間較長等，以致于導(dǎo)入LED 的裸晶與晶粒生產(chǎn)線時(shí)會(huì)發(fā)生問題。

致茂研發(fā)出一種全新、高速且高**度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。這種**的量測方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的 LED 部分光通量，也明顯的改善提升了量測**度。

在光學(xué)量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可透過致茂獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)與元件取得**且穩(wěn)定快速之?dāng)?shù)據(jù)；在機(jī)構(gòu)方面，58173 搭載一個(gè)6吋的晶片載盤與校正基座，提供使用者一個(gè)完整的校正與測試平臺(tái)；在電性測試方面，58173 則具備完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一次滿足使用者的測試需求。