溫度巡檢儀XMD-26H23由藍宇儀表生產(chǎn) XMD-16A XMD-36 JXC-61A
產(chǎn)品簡介
智能溫度巡檢儀由于其具有多通道、遙信、遙測功能,被應用到揚水泵站綜合自動化改造中,為保證正??煽窟\行,設計、施工中應考慮其運行環(huán)境。
產(chǎn)品詳細信息
溫度巡檢儀XMD-26H23由藍宇儀表生產(chǎn)
藍宇儀表
趙向陽
TEL: FAX:
lanyuyb@163.com
溫度巡檢儀XMD-26H23由藍宇儀表生產(chǎn)概述
隨著電子技術(shù)、計算機及其軟件技術(shù)的飛速發(fā)展,儀器儀表及其測試技術(shù)跟著發(fā)生根本變化,傳統(tǒng)的測量理論、測量技術(shù)和方法已不能適應發(fā)展的需要,新的測試系統(tǒng)正沿著計算機化、標準化和網(wǎng)絡化方向發(fā)展。哈爾濱宇達電子技術(shù)有限公司生產(chǎn)自動水分測定儀,水分測量儀,水分監(jiān)測儀,水分測試儀。
新一代溫度計檢定裝置已在北京中航機電研究所誕生。它與目前市場流行的熱電偶熱電阻自動檢定裝置不同,在嚴格執(zhí)行ITS-90溫標和國家檢定規(guī)程的前提下,它做到了實實在在的一機多用,同時還能完成智能化計量管理任務。它是集現(xiàn)代測量技術(shù)、計算機測控技術(shù)和信息管理技術(shù)于一體的新一代溫度儀表檢定裝置,是全新概念的溫度計量管理系統(tǒng)。
二、溫度巡檢儀XMD-26H23由藍宇儀表生產(chǎn)系統(tǒng)組成、性能和原理
(一)基本組成
本裝置的基本組成包括核心部件多功能高精度數(shù)字電測儀表;關(guān)鍵部件多路自動掃描開關(guān);主要部件溫度控制系統(tǒng)以及計算機打印機及其功能強大系統(tǒng)配套軟件。通過控制電路和多路接口,將各智能化功能部件連成系統(tǒng)網(wǎng)絡。
(二)溫度巡檢儀XMD-26H23由藍宇儀表生產(chǎn)主要性能指標
1. XMD-26H23基本功能
① 用一等標準鉑銠10―鉑熱電偶溫度計檢定二等標準鉑銠10―鉑熱電偶溫度計;
② 用一等或二等標準熱電偶溫度計檢定工業(yè)用各型熱電偶(S、R、B、K、N、E、J、T)溫度計;
③ 用二等標準熱電阻溫度計檢定工作用熱電阻(Pt100、Pt10、Cu100、Cu50)溫度計;
④ 對多路溫場信號輸入進行分時檢定;
⑤ 對工業(yè)熱處理爐進行溫場測試。
2. XMD-26H23主要指標
① 數(shù)字電壓表準確度為0.003%,分辨率為0.01μV。
② 掃描開關(guān)寄生電勢≤0.4μV。
③ 控溫準確度為0.1%FS。穩(wěn)定性:對高溫爐≤0.1℃/min;對油(水)槽≤0.04℃/10min 。
④ 對工業(yè)用熱電偶熱電阻溫度計一次可檢定1~7支。
⑤檢定溫度范圍:熱電偶溫度計為300℃~1600℃;熱電阻溫度計為0~300℃(還能對Pt100在-100℃~0℃之間檢定);液體溫度計為-30℃~150℃;
⑥ 對熱處理爐的溫場測試范圍為50℃~1000℃。
⑦ 溫度巡檢儀XMD-26H23由藍宇儀表生產(chǎn)總不確定度:二等標準檢定為0.5℃
XMD-26H23整個檢定系統(tǒng)就處于完全自動工作狀態(tài)待爐溫重新穩(wěn)定下來時再測 智能溫度巡檢儀控制系統(tǒng)的地線包括屏蔽接地、交流接地和保護接地等。接地系統(tǒng)混亂對PLC系統(tǒng)的干擾主要是各個接地點電位分布不均,不同接地點間存在地電位差,引起地環(huán)路電流,影響系統(tǒng)正常工作。例如電纜屏蔽層必須一點接地,如果電纜屏蔽層兩端A、B都接地,就存在地電位差,有電流流過屏蔽層,當發(fā)生異常狀態(tài)如雷擊時,地線電流將更大。
工業(yè)用熱電偶檢定為0.7℃
工作用熱電阻檢定為50mk
熱處理爐溫場測試為1℃
⑧ 軟件:功能強大,集測量控制和管理于一體,為檢定裝置建標提供整套測試軟件。
溫度巡檢儀XMD-26H23由藍宇儀表生產(chǎn)就自動完成數(shù)據(jù)測量和采集、數(shù)據(jù)處理和保存并自動形成結(jié)果文件就可實現(xiàn)對多個溫場輸送的信號的檢定2℃/min以內(nèi)的穩(wěn)定溫場時 來自接地系統(tǒng)混亂時的干擾:接地是提高電子設備電磁兼容性的有效手段之一。正確的接地,既能抑制電磁干擾的影響,又能抑制設備向外發(fā)出干擾;而錯誤的接地,反而會引入嚴重的干擾信號,使智能溫度巡檢儀系統(tǒng)將無法正常工作?! 碜灾悄軠囟妊矙z儀系統(tǒng)內(nèi)部的干擾:主要由系統(tǒng)內(nèi)部元器件及電路間的相互電磁輻射產(chǎn)生,如邏輯電路相互輻射及其對模擬電路的影響,模擬地與邏輯地的相互影響及元器件間的相互不匹配使用等。
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