采用2.3μm短波段的探 測(cè)器，適用于測(cè)量金屬的二次加工、金屬氧化物以及陶瓷材料。
測(cè)量范圍覆蓋50~600℃，微型探頭設(shè)計(jì)
短波段的探測(cè)器可以有效降低發(fā)射率設(shè)置導(dǎo)致的測(cè)量偏差
1ms快速響應(yīng)時(shí)間
探頭堅(jiān)固且在85℃的環(huán)境溫度下工作而無(wú)需冷卻
分離式電子變送盒，帶有易于調(diào)節(jié)的程序按鍵和帶有背光的LCD顯示窗口
寬松的工作電源：8~36VDC
溫度量程
光學(xué)分辨率

系統(tǒng)精度
重復(fù)精度
溫度分辨率
響應(yīng)時(shí)間
發(fā)射率
50~375℃(3ML)
100~600℃(3MH)
22：1(5mm@110mm)(3ML)
33:1(3.5mm@110mm)(3MH)
±0.3%或±2℃(在環(huán)境溫度為23±5℃)
±0.1%或±1℃(在環(huán)境溫度為23±5℃)
0.1℃
1ms(90%)
0.100~1.100(可通過(guò)設(shè)置鍵或軟件調(diào)節(jié))