操作模擬耐久試驗(yàn)機(jī)可模擬 Notebook 、手機(jī)、 PDA 各種動作之操作，以了解產(chǎn)品在多次使用后，各種零件的耐久狀況。由計算機(jī)設(shè)定測試動作，可隨時更改或儲存，并可同時執(zhí)行數(shù)個測試動作，一臺計算機(jī)同時控制數(shù)臺機(jī)器

磁盤片插入、退出試驗(yàn)。

光驅(qū)插入、退出試驗(yàn)。

PCMCIA 插入、退出試驗(yàn)。

電池插入、退出試驗(yàn)。

各種接頭插入、退出試驗(yàn)。 (PRINT 埠、 COM 埠、 USB 、 PS2 等等 )

桌面放落試驗(yàn)

天線上、下抽取試驗(yàn)。

天線彎曲試驗(yàn)。

電池插入、拔出試驗(yàn)。

連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)。

ON 、 OFF 開關(guān)機(jī)壽命試驗(yàn)。

上蓋打開、關(guān)閉壽命試驗(yàn)。

短距離落下壽命試驗(yàn)。

SIM 卡插入、拔出壽命試驗(yàn)

CF 卡插拔耐久試驗(yàn)。

Battery 蓋插、拔耐久試驗(yàn)。

DC 插頭耐久試驗(yàn)。

連接器插、拔耐久試驗(yàn)。

筆插拔耐久試驗(yàn)。

觸控屏幕摩擦耐久試驗(yàn)。

ON 、 OFF 開關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn)