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KH-CTLC型置備離心薄層色譜儀

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公司名稱:云澤色譜儀器
  地:北京
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產品簡介

電感耦合等離子體質譜-ICP-MS,是一種新型的無機元素和同位素分析技術,可快速同時檢測周期表上幾乎所有元素。ICP-MS技術在分析能力上,超過傳統的無機分析技術如電感耦合等離子體光譜技術(ICPAES)、石墨爐原子吸收(GFAAS)和汞冷原子吸收技術(CVAAS)的總和,被稱為當代分析技術*激動人心的發(fā)展。

產品詳細信息

儀器介紹

電感耦合等離子體質譜-ICP-MS,是一種新型的無機元素和同位素分析技術,可快速同時檢測周期表上幾乎所有元素。ICP-MS技術在分析能力上,超過傳統的無機分析技術如電感耦合等離子體光譜技術(ICPAES)、石墨爐原子吸收(GFAAS)和汞冷原子吸收技術(CVAAS)的總和,被稱為當代分析技術*激動人心的發(fā)展。

Agilent ICP-MS技術的應用領域包括:
● 環(huán)境樣品分析,包括自來水、地表水、地下水、海水以及各種土壤、廢棄物等的分析;
● 半導體材料分析
● 玻璃、陶瓷和礦冶等樣品分析;
● 地質學研究;
● 生物食品及醫(yī)藥臨床研究;
● 核材料分析
● 石油化工樣品分析;
● 法醫(yī)應用與研究;
● *近,與分離技術聯用進行環(huán)境毒理、生命科學等領域的元素價態(tài)、形態(tài)分析成為ICP-MS技術應用的一個焦點。

ICP-MS分析特性

● 可快速同時檢測周期表上幾乎所有元素
● *低的檢出限(低至ppq級)
● 分析效益/成本比*佳
● *寬的線性動態(tài)范圍—可直接檢測從ppq到數百ppm濃度
● 譜線*簡單、干擾*小,準確度和精密度好
● 需要樣品量很低(ul至ml),分析速度很快(1〜3分鐘/樣品)
● 檢測模式靈活多樣

半導體工業(yè)常用材料中超痕量污染物分析

固體:Si;GaAa單晶切片;石英、碳化硅等爐材料;高純金屬電極等
液體:超純水;HF;HNO3;HCI;H2SO4;H2O2;氨水等
氣體:SiH4;TE0S;NF3;N2等

Agilent ICP-MS可直接分析有機樣品

Agilent ICP-MS的高效能、高功率屏蔽矩冷等離子體技術已被用于測定一系列有機樣品的ppt級痕量污染元素。
● 對其中一些樣品,其他方法無法得到滿意的結果,高功率屏蔽矩冷等離子體技術是**的分析方法。
● 強堿性清洗劑——四甲基氫氧化氨(TMAH)等
● 常用有機溶劑——甲苯、二甲苯、IPA等
● 高基體樣品——光刻膠、液晶、BPSG、PSG等揮發(fā)性極強的清洗劑——丙酮、甲醇等。

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