l        10kHz電壓可達(dá)1000V @ 4VA

l        每分鐘能測量30個(gè)以上的元件

l        阻抗范圍從100W以下至3MW以上

l        第三諧波低于-160dB

l        對于電流聲不敏感

l        光導(dǎo)纖維通信傳送

l        IEC440標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置容易

l        IEEE 488（GPIB）和RS232C接口

l        廢品分類可編程

l        通過CE 認(rèn)證

應(yīng) 用

該儀表應(yīng)用非常廣泛，包括：

l        生產(chǎn)測試

l        元件開發(fā)

l        驗(yàn)收測試

l        元件和材料的非線性檢驗(yàn)

l        篩選視聽元件

背 景

有缺陷的元件不僅不可靠,同時(shí)缺陷造成電流密度的變化和不穩(wěn)定會(huì)產(chǎn)生非線性。由于非線性與可靠性的相互關(guān)系,測量純正弦波電流通過時(shí)在元件內(nèi)產(chǎn)生的畸變能檢驗(yàn)元件的可靠性。

    非線性（即主要的第三諧波與外加基本電壓的比）的單位是dB。非線性同元件的噪音指數(shù)一樣是元件可靠性參數(shù)。噪音指數(shù)的測量十分費(fèi)時(shí)，不適合100%全體測試。

如元件的非線性高于同一批產(chǎn)品的中間值的話，它就屬于可靠性較差的產(chǎn)品。

在生產(chǎn)測試中，通常把非線性在-90dB與 -130dB之間作為一個(gè)固定的不合格范圍。把有疑問的產(chǎn)品作為廢品處理能提高整批產(chǎn)品的可靠性。同時(shí)，報(bào)廢的元件還能有助于生產(chǎn)廠家提高生產(chǎn)技術(shù)，從而使其產(chǎn)品具有更高的品質(zhì)和可靠性。

元件的缺陷

電阻器引起非線性的典型缺陷：

l        引線與插座接觸**

l        插座與電阻材料接觸**

l        材料（如薄膜）的質(zhì)量差

l        材料上有不均勻點(diǎn)

l        螺線有問題

l        薄膜上有溝狀痕跡

電容器引起非線性的典型缺陷

l        電極與端子的接觸**

l        介質(zhì)沾污了云母、紙、聚苯乙烯等里的氧化鐵或鐵粒子

l        靜電造成的動(dòng)程之類的機(jī)械不穩(wěn)定

l        陶瓷質(zhì)量差

l        陶瓷上有縱向溝槽

這些缺陷是產(chǎn)生元件非線性的普遍原因

用戶界面友好

CLT10 控制部分按IEC440所要求的操作條件設(shè)有桌面。各色數(shù)字按鈕使儀表能方便的對所要測試的電阻進(jìn)行設(shè)置，只需鍵入標(biāo)準(zhǔn)IEC顏色代碼。

此外，通過按鍵或遙控可以儲(chǔ)存99個(gè)用戶自己設(shè)定的操作條件，使用戶可以設(shè)置、儲(chǔ)存、以后還可以重復(fù)使用特定的元件電阻測試條件。

系統(tǒng)綜合利用

CLT 10控制部分有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的IEEE488（GPIB）和可選配的內(nèi)置RS232C遙控接口。這些接口能確保系統(tǒng)在生產(chǎn)線和實(shí)驗(yàn)室里的綜合利用。

除了電源開關(guān)外所有的功能都由軟件控制。除可通過控制部分的前面板進(jìn)行控制外，還棵通過遙控接口對一些增強(qiáng)性能進(jìn)行控制。這些增強(qiáng)性功能包括：儀表識別、綜合系統(tǒng)測試、設(shè)置檢驗(yàn)、IEC440標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置插頭1/16，1/2，1，2，4W裝置，以及*近99個(gè)測試指標(biāo)的讀數(shù)。

這些性能使用戶能收集測量數(shù)據(jù)諸如生產(chǎn)批量的有關(guān)數(shù)據(jù)以及今后工藝的統(tǒng)計(jì)分析。

靈活的配置

   CLT 10的電源容量（4 VA @ 250 kW ）大，使其能在一小段測試時(shí)間里元件承受過負(fù)荷。這樣能在按要求進(jìn)行測試前給元件加壓，從而確保擴(kuò)大動(dòng)態(tài)測試范圍。

該系統(tǒng)包括畸變率高和低分類范圍，全部可編程限制范圍控制用戶連接器的輸出，可用于自動(dòng)通過/不通過生產(chǎn)線。

 標(biāo)準(zhǔn)的IEEE488和RS232C接口能進(jìn)行儀表綜合利用數(shù)據(jù)收集的遙控。

測試原理

        CLT 10 元件線性測試儀的測試方式是基于測量元件的非線性。如圖2所示，把一條純10kHz正弦電壓輸?shù)剿铚y試的元件上。

如果元件的阻抗大小受外加電壓的影響，則正弦波會(huì)畸變，電流會(huì)有純基本正弦波部分及其更高的諧波組成。

第三諧波部分通常是*主要的部分，因而作為測量元件畸變（非線性）的方式。

第三諧波電流相當(dāng)于與阻抗為Z_X的待測元件連在一起的無負(fù)荷的U_3.0電壓。當(dāng)10kHz低通濾過器阻斷在30kHz，第三諧波電壓U₃可在負(fù)荷阻抗R₁上測得。

Z_X、 R₁的值一定，無負(fù)荷電壓可由以下公式方便地計(jì)算出：

U_3.0= U₃×（1+   Z_X  / R₁）

通過加入一個(gè)特殊的低畸變匹配用變壓器，測試中的元件能在很大阻抗范圍內(nèi)適應(yīng)發(fā)電機(jī)和30kHz伏特表。

當(dāng)對一整批有標(biāo)稱阻抗值的元件進(jìn)行測試時(shí)，第三諧波值可以在一個(gè)平均值附近分布。分布曲線通常上一條高斯曲線，見圖3。

然而，一部分元件所顯示的畸變率比同一批的其他產(chǎn)品高，這也許是因?yàn)椴牧辖Y(jié)構(gòu)上的小缺陷或偏差造成的。

一些元件含有具固有較高畸變率的材料，如：磁性材料，合成電阻，高介電電容器等。在這些元件里，由一些小缺陷引起的不正?；兛赡軙?huì)被一些材料的固有高畸變率所掩蓋而不被發(fā)現(xiàn)。另一方面，一些金屬化薄膜電阻的固有畸變率非常低，一般在-130dB或更低。在這些元件里，由一些小缺陷引起的不正?；儠?huì)在其余的整批元件中顯得十分明顯。

CLT 10之所以與眾不同，是因?yàn)樗谡也ㄏ履軠y出低至-160dB的畸變率。

在市場上沒有其它儀表可做到這樣的敏感性,只有CLT10才能測出精密電阻是否有缺陷。