XRF鍍層測厚儀 X-STRATA980

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產品價格： < 面議

產品型號：X-STRATA980

品牌：其它品牌

公司名稱：三翔分析儀器

所在地：廣東深圳

瀏覽次數(shù)：1279 次

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產品簡介

XRF鍍層測厚儀，結合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測器確保**的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。

產品詳細信息

XRF鍍層測厚儀 應用:

--焊料合金成分分析和鍍層厚度測量
--電子產品中金和鈀鍍層的厚度測量
--五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量

產品特點:  XRF鍍層測厚儀
--100瓦X射線管
--25mm2PIN 探測器
--多準直器配置
--掃描分析及元素分布成像功能
--超大樣品艙
--同時分析元素含量和鍍層厚度

技術參數(shù):
--元素范圍:S(16) to U(92)
--可測鍍層層數(shù):5 層 (4 層+ 底材),可同時分析25種元素成份
--X射線管功率:100W (50kV and 2mA)微焦點鎢靶X射線管
--探測器:25mm2 PIN 電制冷固態(tài)探測器
--濾波器/準直器:*多可包含5個初級濾波器和4個準直器規(guī)格 (0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm Ø)
--數(shù)字脈沖處理器:4096多道數(shù)據分析功能;自動數(shù)據處理,包括死時間修正
--電腦/顯示器/系統(tǒng)軟件
  Celeron, 1.86 GHz,  40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置
  15”LCD, 1024 x 768
  MicrosoftTM XP SP2
--攝像系統(tǒng):1/2” CMOS-640x480 VGA resolution
--電源:85~130V&nbs******bsp;215~265 V, 頻率47Hz to 63Hz
--工作環(huán)境: 10－40℃、相對濕度小于98%，無冷凝水
--XYZ軸行程:  203 x 152 x 216 mm (8 x 6 x 8.5”)
--*大樣品尺寸
  305 x 390 mm (12 x 15.4”)，樣品高度為  50mm (2”)
  305 x 352 mm (12 x 13.9”)，樣品高度為 203mm (8”)
--艙室尺寸:   (W x D x H):584 x 508 x 220mm (23 x 20 x 8.7”)
--外型尺寸
  高765mm (30.1”)
  寬 700mm (27.5”), 840mm (5.5”) with one mouse pad extended
  深790mm (31.1”), 990 mm (39”) with keyboard tray extended
--重量: 135 kg