SGW X-4A顯微熔點(diǎn)儀 SGW X-4A
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
SGW X-4A顯微熔點(diǎn)儀應(yīng)用范圍:測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于**、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
產(chǎn)品詳細(xì)信息
應(yīng)用范圍:測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于**、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
【產(chǎn)品詳情】
性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃
*小讀數(shù):0.1℃
測(cè)量重復(fù)性:±1℃(在<200℃時(shí))
±2℃(在200~300℃時(shí))
光學(xué)放大倍數(shù):目鏡10X;物境4X
- 新加產(chǎn)品 | 公司介紹
- 會(huì)員等級(jí): 免費(fèi)會(huì)員
- 注冊(cè)時(shí)間: 2009-03-31
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