GB2423[1].37砂塵試驗(yàn)方法GB2423.37-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)L：砂塵試驗(yàn)方法本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)L：砂塵試驗(yàn)方法。 本標(biāo)準(zhǔn)提供了三種砂塵試驗(yàn)方法，適用于在砂塵環(huán)境中使用的電工電子產(chǎn)品。 砂塵對(duì)產(chǎn)品的主要影響如下: a.侵入密封件和外殼； b.改變電氣性能（如接觸電阻和表面泄漏電流改變等）； c.阻滯和磨損軸承等運(yùn)動(dòng)部件； d.磨蝕表面，污染潤(rùn)滑劑； e.阻塞通風(fēng)口，管路，過(guò)濾器，操作孔等； f.積塵可以成為水汽凝聚的核心，促進(jìn)腐蝕和霉菌生長(zhǎng)。
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