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OURSTEXX射線熒光光譜儀 160

產(chǎn)品價格: < 面議
產(chǎn)品型號:160
 牌:OURSTEX
公司名稱:北崎國際貿(mào)易(北京)有限公司
  地:北京朝陽
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產(chǎn)品簡介

能量色散X射線熒光光譜儀用來自X射線管的初級X射線照射樣品,并用半導(dǎo)體檢測器測量產(chǎn)生的X射線熒光,無論樣品的形狀如何,都可以無損地對元素進(jìn)行定性和定量分析。

產(chǎn)品詳細(xì)信息

元素技術(shù)晶體/高靈敏度、高精度

能量色散X射線熒光光譜儀用來自X射線管的初級X射線照射樣品,并用半導(dǎo)體檢測器測量產(chǎn)生的X射線熒光,無論樣品的形狀如何,都可以無損地對元素進(jìn)行定性和定量分析。
半導(dǎo)體探測器使用不需要液氮冷卻的電子冷卻硅漂移探測器(SDD),并且可以與數(shù)字計(jì)數(shù)電路(DSP)結(jié)合使用,以提供高分辨率和高計(jì)數(shù)率的測量。
為了提高分析性能,我們準(zhǔn)備了激發(fā)光學(xué)系統(tǒng)的條件,可以*大限度地提高半導(dǎo)體探測器的能量分辨率和計(jì)數(shù)靈敏度。

尺寸圖

160 張尺寸圖像

應(yīng)用實(shí)例

  • 同時分析碘化銫 (CsI) 化合物中的碘 (I) 和銫 (Cs)
  • 焚燒灰燼分析實(shí)例
  • 水泥分析示例
  • 采石場沉積物、礫石和碎石的現(xiàn)場分析示例
  • 鋁合金鎂測量示例(各種類型)
  • 農(nóng)藥污染土壤分析
  • 工業(yè)廢棄物分析
  • 土壤中有害重金屬元素的分析
  • 油中的硫分析
  • 新型固體燃料RPF分析

OURSTEX160規(guī)格

 

測量原理 能量色散X射線熒光光譜法
測量目標(biāo) 用于土壤分析的環(huán)境樣品(固體、粉末、液體)
被測元素 S、Cr、As、Se、Cd、Hg、Pb(13AI~92U)
試樣形狀 *大78mmφ×55mmH
樣品室的氛圍 大氣層
X射線額定輸出 48kV,*大2mA 50W
探測器 電子冷卻硅漂移探測器
計(jì)數(shù)電路 數(shù)字處理方法
使用條款 溫度:5~27°C 濕度
:20~75% 電源
:AC100V,5A(50/60Hz)
接地:D類接地
其他(可選) 噴墨彩色打印機(jī),鼠標(biāo)

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