OURSTEXX射線熒光光譜儀 160
產(chǎn)品簡介
能量色散X射線熒光光譜儀用來自X射線管的初級X射線照射樣品,并用半導(dǎo)體檢測器測量產(chǎn)生的X射線熒光,無論樣品的形狀如何,都可以無損地對元素進(jìn)行定性和定量分析。
產(chǎn)品詳細(xì)信息
元素技術(shù)晶體/高靈敏度、高精度
能量色散X射線熒光光譜儀用來自X射線管的初級X射線照射樣品,并用半導(dǎo)體檢測器測量產(chǎn)生的X射線熒光,無論樣品的形狀如何,都可以無損地對元素進(jìn)行定性和定量分析。
半導(dǎo)體探測器使用不需要液氮冷卻的電子冷卻硅漂移探測器(SDD),并且可以與數(shù)字計(jì)數(shù)電路(DSP)結(jié)合使用,以提供高分辨率和高計(jì)數(shù)率的測量。
為了提高分析性能,我們準(zhǔn)備了激發(fā)光學(xué)系統(tǒng)的條件,可以*大限度地提高半導(dǎo)體探測器的能量分辨率和計(jì)數(shù)靈敏度。
尺寸圖
應(yīng)用實(shí)例
- 同時分析碘化銫 (CsI) 化合物中的碘 (I) 和銫 (Cs)
- 焚燒灰燼分析實(shí)例
- 水泥分析示例
- 采石場沉積物、礫石和碎石的現(xiàn)場分析示例
- 鋁合金鎂測量示例(各種類型)
- 農(nóng)藥污染土壤分析
- 工業(yè)廢棄物分析
- 土壤中有害重金屬元素的分析
- 油中的硫分析
- 新型固體燃料RPF分析
OURSTEX160規(guī)格
測量原理 | 能量色散X射線熒光光譜法 |
測量目標(biāo) | 用于土壤分析的環(huán)境樣品(固體、粉末、液體) |
被測元素 | S、Cr、As、Se、Cd、Hg、Pb(13AI~92U) |
試樣形狀 | *大78mmφ×55mmH |
樣品室的氛圍 | 大氣層 |
X射線額定輸出 | 48kV,*大2mA 50W |
探測器 | 電子冷卻硅漂移探測器 |
計(jì)數(shù)電路 | 數(shù)字處理方法 |
使用條款 |
溫度:5~27°C 濕度 :20~75% 電源 :AC100V,5A(50/60Hz) 接地:D類接地 |
其他(可選) | 噴墨彩色打印機(jī),鼠標(biāo) |
其他產(chǎn)品
- 新加產(chǎn)品 | 公司介紹
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